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電子元器件可靠性測試是為了評估電子元器件在規(guī)定的壽命期間內(nèi),在預(yù)期的使用、運輸或儲存等所有環(huán)境下,保持功能可靠性而進(jìn)行的活動。電子元器件可靠性測試項目分為三類:電氣性能測試、零部件環(huán)境可靠性、零部件機(jī)械類可靠性。
電子元器件可靠性測試項目及標(biāo)準(zhǔn)
1、電氣性能測試
擊穿電壓、介電強度
參考標(biāo)準(zhǔn):ASTM D149-09(2013)、GB/T 1408.1-2006、IEC 60243-1-2013、ASTM D1000-10、GB/T 4677-2002
介電常數(shù)、介質(zhì)損耗
參考標(biāo)準(zhǔn):GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、ASTM D150-11
體積電阻率、 表面電阻率
參考標(biāo)準(zhǔn):GB/T 3048.3-2007、GB/T 1410-2006、GB/T 15662-1995、ASTM D257-14
耐電壓
參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-20C
接觸電阻
參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-06C
絕緣電阻
參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-21C
溫升
參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-70B
2、零部件環(huán)境可靠性
鹽霧試驗
防塵防水試驗/IP等級
高溫試驗
UV紫外光老化試驗
冷熱沖擊試驗
快速溫度變化試驗
交變濕熱試驗
恒溫恒濕試驗
氣體腐蝕試驗
低氣壓試驗
臭氧測試
高壓蒸煮(HAST)
氙燈老化/太陽輻射
3、零部件機(jī)械類可靠性
跌落試驗
振動試驗
沖擊和撞擊試驗
插拔力測試
加速壽命試驗 HALT/HASS試驗
碰撞試驗
三綜合試驗